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陶瓷基片外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備
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訪問(wèn)次數(shù):1429更新時(shí)間:2023-03-07 20:07:38
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品介紹
的組合光場(chǎng)光學(xué)方案,實(shí)現(xiàn)兩面12種缺陷同時(shí)呈現(xiàn)1、可檢尺寸:長(zhǎng)70mm,寬60mm,高度0.2mm-0.5mm;2、缺陷種類:實(shí)心點(diǎn)狀/不規(guī)則線型/線型傷痕、弧形/直線型波紋、凹凸、明裂、暗裂、氣泡、氣孔、黏附、缺損、斑點(diǎn)、臟污;3、檢測(cè)速度:可達(dá)60pcs/每分鐘以上;4、深度學(xué)習(xí)融合傳統(tǒng)算法,實(shí)現(xiàn)OK、返修、NG準(zhǔn)確分類。