掃描電化學顯微系統(tǒng)（SECM）

交流掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)（ac-SECM）

間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統(tǒng)（ic-SECM）

微區(qū)電化學阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)

掃描振動點擊測試系統(tǒng)（SVET）

電解液微滴掃描系統(tǒng)（SDS）

交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ac-SDS）

掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（SKP）

非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（OSP）

Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站出色的性能：

1、快速精準的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。

2、結(jié)合Uniscan 的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的配置。

3、和靈活的工作平臺。

4、系統(tǒng)可提供9種探針技術，使得M470成為靈活的電化學掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。

5、全面的附件。

6、7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。

Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站特征：

1、SECM自動處理曲線

2、SECM用戶自定義處理曲線步長變化

3、高分辨率讀取

5、手動或自動調(diào)節(jié)相位

Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站同時具備如下特點：

1、傾斜校正.

2、X或Y曲線相減（5階多項式）。

3、2D或3D快速傅里葉變化。

4、實驗，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序。

5、圖形實驗測序引擎（GESE）。

6、支持多區(qū)域掃描。

7、所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖。

8、峰值分析。

Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站是由Uniscan儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng)，具有更高規(guī)格和更多探針技術。

Uniscan M470 微區(qū)掃描電化學工作站技術參數(shù)

工作站（所有技術）

掃描范圍（x,y,z）：大于100mm

掃描驅(qū)動分辨率 ：0.1nm

閉環(huán)定位：線性零滯后編碼器，直接實時讀出x,z和y位移

軸分辨率（x,y,z）：20nm

掃描速度：12.5mm/s

測量分辨率 ：32-bit@高達40MHz

壓電（ic-和ac-掃描探針技術）

振動范圍：20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動分辨率：0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展：100μm

定位分辨率 ：0.09nm(20-bit DAC ,100μm)

機電

掃描前端：500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元：275×450×400mm(H×W×D)

功率：250W