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高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
  • 高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
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  • 高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
參考價(jià) 120000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
120000
≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 ZHIDECHUANGXIN
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

>

聯(lián)系方式:劉偉查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間:2023-04-03 14:56:46瀏覽次數(shù):518評價(jià)

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高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀適宜于在高電壓下測量電力電纜、高壓套管、電力電容器、 電抗器、互感器等高壓電力設(shè)備的電容量及損耗角正切值tgδ,以及各種固體或液體絕緣材料的介電常數(shù)(ε)及介損值tgδ,也可測量高壓變壓器或電壓互感器的比差和角差。電橋可外接電流互感器以擴(kuò)大量程,測量大的電力電容器時(shí)本電橋?yàn)樗亩藴y量具有引線補(bǔ)償裝置,使測量精度提高,消除接線電阻引起的附加誤差。

高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀儀器介紹

本儀器是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。

技術(shù)參數(shù)

1 Q值測量范圍:5999
Q
值量程分檔:30100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋
誤差:25kHz10MHz   5%±滿度值的2%
10MHz
50MHz  7%±滿度值的2%
電感測量范圍:0.1μH1H  分七個(gè)量程
電容測量范圍:1PF460PF
主電容調(diào)節(jié)范圍:40PF500 PF

準(zhǔn)確度:150PF以下±1.5PF
150PF
以上±1%
微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍:-3PF0PF+3PF
準(zhǔn)確度:±0.2PF
頻率覆蓋范圍:25 kHz50MHz 分七段
指示誤差:2×10-4±2個(gè)字
電源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W
環(huán)境溫度:(0+40)
相對濕度:RH<80%
外形尺寸:380mm×132mm×280mm
重量:約7kg
儀器介紹

全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。
數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.
技術(shù)參數(shù)

信號(hào)源頻率范圍

DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz

Q測量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

信號(hào)源頻率覆蓋比

1900/9/6 0:01

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

信號(hào)源頻率精度

3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

Q測量工作誤差

<5%

電感測量范圍

15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

調(diào)諧電容

主電容30-500PF

電感測量誤差

<5%

調(diào)諧電容誤差和分辨率

±1.5P<1%

標(biāo)準(zhǔn)測量頻點(diǎn)

全波段任意頻率下均可測試

Q合格預(yù)置范圍

5-1000聲光提示

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

Q量程切換

自動(dòng)/手動(dòng)

諧振指針

LCD顯示

LCD顯示參數(shù)

F,L,C,Q,波段等














ZJD-C高壓電橋介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。
技術(shù)參數(shù)
ZJD-C
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項(xiàng)技術(shù):
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。

全參數(shù)液晶顯示  數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6 DDS 
數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路* —使測試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
ZJD-C
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì),無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無須關(guān)注量程和換算單位。


主要技術(shù)特性

值測量范圍

 1023,量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差

 5%±滿度值的 2(200kHz10MHz),6%±滿度值的2%(10MHz160MHz

工作誤差

7 ± 滿度值的2(200kHz  10MHz),8 ± 滿度值的2(10MHz160MHz)

電感測量范圍

4.5nH  140mH

電容直接測量范圍

 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

18  220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 

信號(hào)源頻率覆蓋范圍

100kHz  160MHz

頻率分段(虛擬)

100  999.999kHz,1  9.99999MHz,10  99.9999MHz,100  160MHz

頻率指示誤差

× 10 -5 ± 1 個(gè)字




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